High-temperature X-ray Diffractometry of Thin Layers
Vysokoteplotní RTG difraktometrie tenkých vrstev
dizertační práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/65500Identifikátory
SIS: 57538
Katalog UK: 990020286680106986
Kolekce
- Kvalifikační práce [11981]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Jergel, Matej
Nižňanský, Daniel
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Fyzika nanostruktur
Katedra / ústav / klinika
Katedra fyziky kondenzovaných látek
Datum obhajoby
29. 6. 2015
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Angličtina
Známka
Prospěl/a
Klíčová slova (česky)
nanočástice oxidů kovů, prášková rentgenová difrakce, GISAXSKlíčová slova (anglicky)
metal oxide nanoparticles, x-ray powder diffraction, GISAXSTato práce je zaměřena na studium krystalografické struktury a jejích změn během termálního působení několika systémů skládajících se z nanočástic oxidů kovů. Hlavní metodou použitou v celé práci je rentgenová prášková difrakce, rozšířená o maloúhlý rozptyl rentgenového záření v případech, kdy nanočástice tvoří uspořádanou strukturu a o rentgenovou absorpční spektroskopii v případech, kdy je zapotřebí dodatečná informace o lokální krystalografické struktuře. U všech studovaných systémů byly podle krystalografických dat optimalizovány podmínky jejich přípravy pro další použití.
In this work, the crystallographic structure and its changes under thermal treatment of different systems consisting of metal oxide nanoparticles is studied. The principal method used throughout the thesis is x-ray powder diffraction enriched with grazing incidence small angle x-ray scattering when the nanoparticles form an ordered structure or with x-ray absorption spectroscopy when additional information on local crystallographic structure is required. For all the systems the preparation conditions were optimized according to the crystallographic data for further applications.
