Optoelektronické a strukturní vlastnosti tenkých vrstev křemíku

Optoelectronic and structural properties of thin silicon films

View/Open

Text práce (62.57Mb)

Abstrakt (149.3Kb)

Abstrakt (anglicky) (149.3Kb)

Posudek vedoucího (281.8Kb)

Posudek oponenta (538.7Kb)

Posudek oponenta (361.5Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (482.8Kb)

Permanent link

http://hdl.handle.net/20.500.11956/21175

Identifiers

Study Information System: 40925

CU Caralogue: 990011404480106986

Collections

• Kvalifikační práce [11338]

Author

Ledinský, Martin

Advisor

Fejfar, Antonín

Referee

Trchová, Miroslava

Schmidt, Eduard

Faculty / Institute

Faculty of Mathematics and Physics

Discipline

Quantum Optics and Optoelectronics

Department (external)

Information is unavailable

Date of defense

4. 5. 2009

Publisher

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Language

Czech

Grade

Pass

Citace dokumentu