Optoelektronické a strukturní vlastnosti tenkých vrstev křemíku
Optoelectronic and structural properties of thin silicon films
dizertační práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/21175Identifikátory
SIS: 40925
Kolekce
- Kvalifikační práce [10690]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Trchová, Miroslava
Schmidt, Eduard
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Kvantová optika a optoelektronika
Katedra / ústav / klinika (externí)
Informace není k dispozici
Datum obhajoby
4. 5. 2009
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Čeština
Známka
Prospěl/a