Study of novel materials and nanostructures for spin photonics and electronics

Abstract

Tato práce je věnovaná studii dvou magnetických materiálů. Byly zkoumány tenké vrstvy ferrimagnetické slitiny GdxFe100−x vyrobené pomocí magnetronového naprašování s různým složením blízko kompenzační teploty x . = 25 na Si sub- strátu s použitím Ru a SiO2 krycích vrstev. Měření magnetooptické Ker- rovy spektroskopie a magnetometrie ukázaly opačné znaménko magnetizace při překročení složení nad kompenzační teplotu, stejně tak jako zesílení jevu pro vzorky s SiO2 krycí vrstvu. Spektroskopická elipsometrie odhalila komplexní diagonální člen tenzoru permitivity. Byl proveden pokus přípravy tenké vrstvy ferromagnetického tetragonálního D022 − Mn3Ge. To bylo provedeno nejprve kalibrací Mn a Ge terčů v magnetronové naprašovačce a poté současnou de- pozicí prvků na MgO (001) substrát s Cr vyrovnávací vrstvou. 1

This work is dedicated to the study of two magnetic materials. Thin films of ferrimagnetic alloy GdxFe100−x fabricated with different compositions near the compensation temperature x . = 25 by magnetron sputtering on Si substrate with the usage of Ru and SiO2 capping layer were investigated. Measure- ments of the magneto-optic Kerr effect spectroscopy and magnetometry showed opposite signs in magnetization when the compensation temperature composi- tion exceeded as well as the enhancement of the effect for SiO2 capping layer. Spectroscopic ellipsometry revealed the complex diagonal element of the per- mittivity tensor. An attempt to prepare thin film of ferromagnetic tetragonal D022 − Mn3Ge was made. That was done firstly by calibrating Mn and Ge targets in magnetron sputtering machine and secondly simultaneous deposition of the elements on MgO (001) substrate with Cr buffer layer. 1