Structure and Properties of Thin Silicon Films for Solar Cells Studied by Combined Atomic Force Microscopy
Structure and Properties of Thin Silicon Films for Solar Cells Studied by Combined Atomic Force Microscopy
dizertační práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/8516Identifikátory
SIS: 42793
Kolekce
- Kvalifikační práce [11237]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Šikola, Tomáš
Čech, Vladimír
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Fyzika povrchů a rozhraní
Katedra / ústav / klinika
Fyzikální ústav UK
Datum obhajoby
9. 1. 2007
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Angličtina
Známka
Prospěl/a