Tato práce se zabývá studiem vrstev MoS2 připravených mechanickou exfoliací. Vrstvy byly detekovány pomocí optické mikroskopie a pomocí AFM byl určen jejich počet. Vrstvy byly charakterizovány pomocí Ramanovy spektroskopie s různými excitačními vlnovými délkami. Dále byla sestrojena spektro-elektrochemická cela pro vzorek tvořený vrstvou MoS2 a dvěma vrstvami grafenu o různém izotopovém složení a provedeno měření Ramanových spekter při napětí 0,0 V až 0,9 V. Ve spektru grafenu byl pozorován větší posun G módu na vrstvách s MoS2 než na vrstvách grafenu. Klíčová slova: MoS2, grafen, Raman, spektroskopie, spektroelektrochemie

This work deals with studies MoS2 layers prepared by mechanical exfoliation was detected by optical microscopy and the number of layers was determined from AFM measurement. The layers were characterized by Raman spectroscopy in various wavelengths. A spectroelectrochemical cell for the sandwich sample consisting of a MoS2 layer and two layers of graphene with various isotope composition and Raman spectra measurements were performed at voltages from 0.0 V to 0.9 V. A larger shift of the G band of graphene was observed on the layers containing MoS2 than on layers consisting just from graphene layers. Keywords: MoS2, graphene, Raman, spectroscopy, spectroelectrochemistry