Rtg difrakční studium teplotní stability tenkých vrstev a prášků TiO2

XRD study of thermal stability of TiO2 thin films and powders

Zobrazit/otevřít

Text práce (2.621Mb)

Abstrakt (45.72Kb)

Abstrakt (anglicky) (41.99Kb)

Posudek vedoucího (70.57Kb)

Posudek oponenta (126.4Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (96.49Kb)

Trvalý odkaz

http://hdl.handle.net/20.500.11956/55088

Identifikátory

SIS: 76389

Katalog UK: 990016019150106986

Kolekce

• Kvalifikační práce [11978]

Autor

Kadlecová, Alžběta

Vedoucí práce

Kužel, Radomír

Konzultant práce

Matěj, Zdeněk

Oponent práce

Valvoda, Václav

Fakulta / součást

Matematicko-fyzikální fakulta

Obor

Obecná fyzika

Katedra / ústav / klinika

Katedra fyziky kondenzovaných látek

Datum obhajoby

19. 6. 2013

Nakladatel

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Jazyk

Čeština

Známka

Výborně

Klíčová slova (česky)

rtg difrakce, tenké vrstvy, oxid titaničitý

Klíčová slova (anglicky)

X-ray diffraction, thin films, titanium dioxide

Citace dokumentu