Zvýšení kontrastu zobrazeni nanostruktur v STM měřením derivace profilu povrchu pomocí lock-in techniky
Contrast enhancement of nanostructures imaging in STM by a direct profile derivative measurement using lock-in technique
bakalářská práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/54698Identifikátory
SIS: 127818
Kolekce
- Kvalifikační práce [10676]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Dvořák, Filip
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Obecná fyzika
Katedra / ústav / klinika
Katedra fyziky povrchů a plazmatu
Datum obhajoby
12. 9. 2013
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Čeština
Známka
Výborně
Tato práce se zabývá přímým měřením derivace profilu povrchu podél řádku (dz/dx) v řádkovacím tunelovém mikroskopu (STM) metodou synchronní detekce. V rámci práce byl do stávající řídící elektroniky STM vestavěn komerční lock-in zesilovač FEMTO spolu s podpůrnými obvody umožňujícími měření derivace dz/dx. Jeho funkčnost byla otestována při měření na čistém povrchu Si(100)-2×1 a na stejném povrchu s napařenými In-Sn řetízky. Data získaná z měření derivace byla srovnána s daty z měření profilu povrchu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
The thesis aims to study a method of direct profile derivative measurement along the line (dz/dx) by a scanning tunneling microscope (STM) using the lock-in technique. A commercial lock-in amplifier module FEMTO has been equipped with support circuit and installed into the current STM system. Its functionality was tested by measuring on a clean Si(100)-2×1 surface and on the same surface with deposited In-Sn chains. The data acquired from the derivative measurement were compared with the profile measurement data. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)