Hledat
Zobrazují se záznamy 1-2 z 2
Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
Preparation of nanostructure samples in SEM/FIB and their study in TEM
Příprava vzorků nanostruktur v SEM/FIB a jejich studium v transmisním elektronovém mikroskopu
Diplomová práce (OBHÁJENO)
Vedoucí práce: Matolínová, Iva
Datum publikování: 2012
Datum obhajoby: 18. 05. 2012
Fakulta / součást: Matematicko-fyzikální fakulta / Faculty of Mathematics and Physics
Abstrakt: Táto práca je zameraná na štúdium vrstiev oxidu céru (dopovaných platinou) pripravených magnetrónovým naprašovaním na rôzne druhy substrátov. Pozor- nosť je upriamená predovšetkým na spôsob rastu a morfológiu vrstiev ...
This work is studying the layers of cerium oxide (doped with platinum) prepa- red by magnetron sputtering on different types of substrates. Attention is focused mainly on modes of growth and morfology of (Pt−)CeO2 layers. ...
This work is studying the layers of cerium oxide (doped with platinum) prepa- red by magnetron sputtering on different types of substrates. Attention is focused mainly on modes of growth and morfology of (Pt−)CeO2 layers. ...
Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB)
Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy
Příprava lamel pro transmisní elektronový mikroskop (TEM) pomocí fokusovaného iontového svazku (FIB)
Bakalářská práce (OBHÁJENO)
Vedoucí práce: Matolínová, Iva
Datum publikování: 2011
Datum obhajoby: 23. 06. 2011
Fakulta / součást: Matematicko-fyzikální fakulta / Faculty of Mathematics and Physics
Abstrakt: Práce zkoumá možnosti tvorby vzorků pro transmisní elektronový mikroskop pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a fokusovaného iontového svazku (FIB). Zkoumá vliv tvorby ochranných povrchů na vzorku pomocí Pt, ...
In this work is studied preparation of specimen for transmission electron microscope (TEM). Scanning electron microscope (SEM) device combined with focused ion beam (FIB) is used. There is studied ion and electron induced ...
In this work is studied preparation of specimen for transmission electron microscope (TEM). Scanning electron microscope (SEM) device combined with focused ion beam (FIB) is used. There is studied ion and electron induced ...