Mapping of changes in optical and magneto-optical responses of Ni-Mn-Ga thin films across martensitic transformation and strain relaxation
Mapování změn v optické a magnetooptické odezvě tenkých vrstev Ni-Mn-Ga napříč martensitickou transformací a relaxací pnutí
diplomová práce (OBHÁJENO)
![Náhled dokumentu](/bitstream/handle/20.500.11956/188412/thumbnail.png?sequence=7&isAllowed=y)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/188412Identifikátory
SIS: 258938
Kolekce
- Kvalifikační práce [10926]
Autor
Vedoucí práce
Konzultant práce
Heczko, Oleg
Oponent práce
Zemen, Jan
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Optika a optoelektronika
Katedra / ústav / klinika
Fyzikální ústav UK
Datum obhajoby
8. 2. 2024
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Angličtina
Známka
Výborně
Klíčová slova (česky)
epitaxní filmy|Ni-Mn-Ga|Heuslerovy slitiny|martensitická transformace|relaxace pnutí|spektroskopická elipsometrie|polární magneto-optický Kerrův jevKlíčová slova (anglicky)
epitaxial films|Ni-Mn-Ga|Heusler alloy|martensitic transformation|strain relaxation|spectroscopic ellipsometry|polar magneto-optical Kerr effectTato diplomová práce se zabývá studiem optické a magnetooptické odezvy tenkých epitaxních vrstev Ni-Mn-Ga, které byly připraveny pomocí magnetronového naprašování. Byl proveden výpočet spekter tenzoru relativní permitivity na základě elipsometrických dat získaných z měření bez přítomnosti magnetického pole a měření s magnetickým polem v polární konfiguraci. Pro jednen ze vzorků tenkých vrstev byla provedena série měření napříč martensitickou transformací a bylo pozorováno hysterezní chování. Analýza získa- ných spekter pro sérii vzorků s různou tloušťkou jasně demonstrovala vliv pnutí, které je způsobeno substrátem, a ukázala silnou korelaci mezi mřížovým parameterem v kolmém směru vůči povrchu a vlastnostmi získaných spekter. 1
This thesis studies optical and magneto-optical responses of thin epitaxial Ni-Mn- Ga films prepared by magnetron sputtering. The relative permittivity tensor spectra were computed from the spectroscopic ellipsometry data measured both without the external magnetic field and in the out-of-plane magnetic field configuration. For one of the thin film samples, measurements across martensitic transformation were performed and temperature-hysteresis was observed. The analysis of the obtained spectra for thickness- varied series of samples clearly demonstrated the influence of substrate-induced strain and revealed a strong correlation between the out-of-plane lattice parameter and the properties of the obtained spectra. 1