Příprava tenkých vrstev CeO2 a jejich charakterizace metodou rastrovací tunelové mikroskopie (STM)

Preparation of thin CeO2 films and their characterization with scanning tunneling microscopy (STM)

Zobrazit/otevřít

Text práce (3.096Mb)

Posudek vedoucího (62.40Kb)

Posudek oponenta (33.26Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (16.18Kb)

Trvalý odkaz

http://hdl.handle.net/20.500.11956/16442

Identifikátory

SIS: 47516

Kolekce

• Kvalifikační práce [11237]

Autor

Dvořák, Filip

Vedoucí práce

Mysliveček, Josef

Konzultant práce

Matolín, Vladimír

Oponent práce

Javorský, Jakub

Fakulta / součást

Matematicko-fyzikální fakulta

Obor

Obecná fyzika

Katedra / ústav / klinika

Katedra fyziky povrchů a plazmatu

Datum obhajoby

23. 6. 2008

Nakladatel

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Jazyk

Čeština

Známka

Výborně

Citace dokumentu