Structure and Electronic Characterization of Poly-Si Thin Films for Solar Cell Applications

Structure and Electronic Characterization of Poly-Si Thin Films for Solar Cell Applications

Zobrazit/otevřít

Text práce (26.81Mb)

Abstrakt (149.3Kb)

Abstrakt (anglicky) (149.3Kb)

Posudek vedoucího (255.7Kb)

Posudek oponenta (293.0Kb)

Posudek oponenta (222.3Kb)

Záznam o průběhu obhajoby (228.9Kb)

Trvalý odkaz

http://hdl.handle.net/20.500.11956/12256

Identifikátory

SIS: 40859

Katalog UK: 990009365680106986

Kolekce

• Kvalifikační práce [11987]

Autor

Honda, Shinya

Vedoucí práce

Fejfar, Antonín

Oponent práce

Čech, Vladimír

Benda, Vítězslav

Fakulta / součást

Matematicko-fyzikální fakulta

Obor

Kvantová optika a optoelektronika

Katedra / ústav / klinika (externí)

Informace není k dispozici

Datum obhajoby

31. 10. 2007

Nakladatel

Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta

Jazyk

Angličtina

Známka

Prospěl/a

Citace dokumentu