Měření elektrického pole v polovodičovém detektoru s netriviální geometrií kontaktů
Measurement of the electric field in semiconductor detector with non-trivial contact geometry
bakalářská práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/119761Identifikátory
SIS: 207557
Kolekce
- Kvalifikační práce [10690]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Trojánek, František
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Obecná fyzika
Katedra / ústav / klinika
Fyzikální ústav UK
Datum obhajoby
14. 7. 2020
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Čeština
Známka
Výborně
Klíčová slova (česky)
CdZnTe, Pockelsův jev, proužkový kontakt, detektor s koplanární mřížkouKlíčová slova (anglicky)
CdZnTe, Pockels effect, stripe contact, Coplanar Grid DetectorHlavním cílem bakalářské práce bylo prozkoumat, zdali je možné použít novou metodu využívající elektrooptický Pockelsův jev ke studiu vnitřního elektrického pole v polovodičovém detektoru gama záření s koplanární mřížkou. Změřením elektrického pole detektoru s triviální geometrií kontaktů byl určen Pockelsův koeficient pro CdZnTe. Následně byl zjištěný Pockelsův koeficient použit pro vyhodnocení 2D vektorového pole u vzorků s netriviální geometrií kontaktů. Zmíněnou metodou se podařilo vyhodnotit intenzitu elektrického pole v téměř celém objemu detektorů s koplanární mřížkou.
The main aim of this bachelor thesis was to investigate whether it is possible to use a new method based on the electro-optical Pockels effect, to study the internal electric field in the coplanar grid detector. The Pocklels coefficient for CdZnTe was determined by measuring the detector with trivial contact geometry. Subsequently, the found Pockels coefficient was used for evaluation of 2D vector field for samples with non-trivial contact geometry. This method was successful to evaluate the electric field in almost entire volume in coplanar grid detectors.