Analýza fluktuací tunelového proudu v STM
Analýza fluktuací tunelového proudu v STM
bakalářská práce (OBHÁJENO)
Zobrazit/ otevřít
Trvalý odkaz
http://hdl.handle.net/20.500.11956/63762Identifikátory
SIS: 127367
Kolekce
- Kvalifikační práce [10690]
Autor
Vedoucí práce
Oponent práce
Sobotík, Pavel
Fakulta / součást
Matematicko-fyzikální fakulta
Obor
Obecná fyzika
Katedra / ústav / klinika
Katedra fyziky povrchů a plazmatu
Datum obhajoby
11. 9. 2014
Nakladatel
Univerzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultaJazyk
Angličtina
Známka
Výborně
Klíčová slova (česky)
STM, fluktuace, Si (111) 7x7Klíčová slova (anglicky)
STM, fluctuation, Si (111) 7x7Práce se zabývá analýzou fluktuací tunelového proudu v skenovací tunelovací mikroskopii (STM). Je studována dynamika atomů Sn na povrchu Si (111) 7x7 za použití časového záznamu tunelového proudu. Z jeho zpracování jsou určeny doby, po které atom Sn setrvává v různých oblastech půlcel povrchové rekonstrukce. Dále jsou studovány jednotlivé modelové typy rušení tunelového proudu, které mají vliv na přesnost provedeného experimentu. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
The thesis deals with analysis of fluctuations of the tunnelling current in scanning tunnelling microscopy (STM). The dynamics of Sn atoms on the surface Si (111) 7x7 is studied by means of time records of the tunnelling current. The records provided characteristic times of Sn adatom staying in various areas of half unit cells of the surface reconstructions are analysed. The model types of the tunnelling current interference, which influence the measurement accuracy, are also studied. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)