Martensitické mikrostruktury v tenkých vrstvách a objemových monokrystalech Heuslerových slitin Ni-Mn-Ga

Abstract

Název práce: Martensitické mikrostruktury v tenkých vrstvách a objemových mo- nokrystalech Heuslerových slitin Ni-Mn-Ga Autor: Kristýna Onderková Katedra: Katedra fyziky povrchů a plazmatu Vedoucí diplomové práce: Mgr. Ing. Oleg Heczko, Dr., Fyzikální ústav Akademie věd ČR Abstrakt: Předložená práce se věnuje studiu prvních tenkých vrstev Heuslerovy slitiny Ni-Mn-Ga připravených magnetronovým naprašováním na nové aparatuře na Fyzikálním ústavu Univerzity Karlovy. Součástí je také studium tenkých vrs- tev z IFW Dresden a objemových materiálů. Práce se zaměřuje hlavně na mar- tensitické mikrostruktury, protože na pohybu jejich hranic dvojčatění závisí jev magnetické tvarové paměti. Při studiu byly použity mikroskopické techniky, pře- devším skenovací elektronová mikroskopie (SEM), ale i transmisní elektronová mi- kroskopie (TEM) a mikroskopie atomárních sil (AFM). Protože vlastnosti slitiny Ni-Mn-Ga jsou velmi citlivé na složení, bylo vyhodnoceno dvěma různými meto- dami (elektronově-disperzní rentgenovou spektroskopií a rentgenovou fluorescenční spektroskopií) a pozorované rozdíly byly diskutovány. Nakonec byly výsledky porov- nány s měřeními rentgenové difrakce (XRD) a rozšířeny o magnetickou charakterizaci pomocí vibračního magnetometru (VSM). Klíčová slova: tenké vrstvy, Heuslerovy slitiny, Ni-Mn-Ga, jev...

Title: Martensite microstructures in thin films and monocrystals of Heusler alloys Ni-Mn-Ga Author: Kristýna Onderková Department: Department of Surface and Plasma Science Supervisor: Mgr. Ing. Oleg Heczko, Dr., Institute of Physics of the Czech Academy of Sciences Abstract: The submitted thesis examines mainly the first thin films from Ni-Mn-Ga Heusler alloy prepared by magnetron sputtering on the new equipment at Institute of Physics of Charles University. However, the work also analysed the thin films prepared in IFW Dresden and bulk material. The main focus of the work is primarily on the martensitic microstructures, because of the significant effect that their twin boundaries have on the magnetic shape memory phenomena. Microscopic techniques used for the research were mainly Scanning Electron Microscopy (SEM), but also Transmission Electron Microscopy (TEM) and Atomic Force Microscopy (AFM). As the Ni-Mn-Ga properties are stronly dependent on chemical composition, the composition was evaluated by two different methods (Electron Dispersive X-ray Spectroscopy and X-ray Fluorescence) and observed differences discussed. Finally the results were compared with X-ray diffraction (XRD) measurements and the films were further characterised by magnetic measurements using Vibrating Sample Magnetometer (VSM)....