Show simple item record

Scanning tunneling microscopy (STM) and spectroscopy (STS) study of thin ceria films
dc.contributor.advisorMysliveček, Josef
dc.creatorDvořák, Filip
dc.date.accessioned2017-04-21T06:16:31Z
dc.date.available2017-04-21T06:16:31Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.11956/30621
dc.description.abstractNáplní práce je studium modelového systému CeO2/Cu(111) pomocí metody STM. Práce se zaměřuje na identifikaci růstového módu systému CeO2/Cu(111), studium závislosti morfologie povrchu systému na teplotě substrátu při přípravě vzorku a na určení atomární struktury připravených vrstev. Z hlediska vývoje teploty substrátu Cu(111) v průběhu depozice CeO2 byly vzorky připravovány třemi různými postupy - konstantní teplota, proměnná teplota a žíhání vzorku po depozici. Z měření morfologie vzorků byl určen rovnovážný růstový mód CeO2/Cu(111) jako 3D růst. Pomocí různé teploty substrátu při přípravě vzorku byly připraveny definované vzorky s různou morfologií. Čím nižší byla teplota v průběhu přípravy vzorku, tím více byl připravený systém neuspořádaný a rostla hustota defektů na jeho povrchu (dislokace, schody). Nejlepší epitaxe systému bylo dosaženo přípravou při proměnné teplotě substrátu. U vzorků připravených při teplotě vyšší než 400 řC byla na několika procentech povrchu pozorována vrstva CeO2(100). Vysoce rozlišené studium struktury CeO2/Cu(111) bylo provedeno na vzorcích s nízkým pokrytím připravených při konstantní teplotě. V prvních třech monovrstvách CeO2 byla na topografických měřeních patrná moir struktura, která vznikla kvůli nesouladu mřížkových konstant CeO2 a Cu(111). Atomárního rozlišení se...cs_CZ
dc.description.abstractThe contents of this study is the investigation of model catalyst CeO2/Cu(111) by STM. The aim of the work is identifying the growth mode of CeO2/Cu(111), studying the surface morphology dependence on substrate temperature during the sample preparation and determination of the atomic structure of the prepared layers. In terms of evolution of substrate temperature during the deposition samples has been prepared by three different methods - a constant temperature, variable temperature, and annealing the sample after deposition. The growth mode of the layers CeO2 has been determined as 3D growth. Samples with different morphology have been prepared by varying temperature of substrate during the preparation. With decreasing sample preparation temperature the roughness and defect density on surface have been increasing. The best epitaxy has been achieved by temperature gradient preparation. Samples which have been prepared with temperature above 400řC have been partially covered by layer CeO2(100). Measurements with hight resolution have been performed on the samples with low coverage. The first three monolayers of CeO2 have shown a moir pattern which has been caused by mismatch in lattice parameters. Atomic resolution has been achieved only in the first and the second monolayer CeO2. The absence of defects in...en_US
dc.languageČeštinacs_CZ
dc.language.isocs_CZ
dc.publisherUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.titleStudium tenkých vrstev oxidu ceru metodami rastrovací tunelové mikroskopie (STM) a spektroskopie (STS)cs_CZ
dc.typediplomová prácecs_CZ
dcterms.created2010
dcterms.dateAccepted2010-05-17
dc.description.departmentDepartment of Surface and Plasma Scienceen_US
dc.description.departmentKatedra fyziky povrchů a plazmatucs_CZ
dc.description.facultyFaculty of Mathematics and Physicsen_US
dc.description.facultyMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.identifier.repId62232
dc.title.translatedScanning tunneling microscopy (STM) and spectroscopy (STS) study of thin ceria filmsen_US
dc.contributor.refereeSobotík, Pavel
dc.identifier.aleph001386893
thesis.degree.nameMgr.
thesis.degree.levelnavazující magisterskécs_CZ
thesis.degree.disciplineFyzika povrchů a ionizovaných prostředícs_CZ
thesis.degree.disciplinePhysics of Surfaces and Ionized Mediaen_US
thesis.degree.programFyzikacs_CZ
thesis.degree.programPhysicsen_US
uk.faculty-name.csMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
uk.faculty-name.enFaculty of Mathematics and Physicsen_US
uk.faculty-abbr.csMFFcs_CZ
uk.degree-discipline.csFyzika povrchů a ionizovaných prostředícs_CZ
uk.degree-discipline.enPhysics of Surfaces and Ionized Mediaen_US
uk.degree-program.csFyzikacs_CZ
uk.degree-program.enPhysicsen_US
thesis.grade.csVýborněcs_CZ
thesis.grade.enExcellenten_US
uk.abstract.csNáplní práce je studium modelového systému CeO2/Cu(111) pomocí metody STM. Práce se zaměřuje na identifikaci růstového módu systému CeO2/Cu(111), studium závislosti morfologie povrchu systému na teplotě substrátu při přípravě vzorku a na určení atomární struktury připravených vrstev. Z hlediska vývoje teploty substrátu Cu(111) v průběhu depozice CeO2 byly vzorky připravovány třemi různými postupy - konstantní teplota, proměnná teplota a žíhání vzorku po depozici. Z měření morfologie vzorků byl určen rovnovážný růstový mód CeO2/Cu(111) jako 3D růst. Pomocí různé teploty substrátu při přípravě vzorku byly připraveny definované vzorky s různou morfologií. Čím nižší byla teplota v průběhu přípravy vzorku, tím více byl připravený systém neuspořádaný a rostla hustota defektů na jeho povrchu (dislokace, schody). Nejlepší epitaxe systému bylo dosaženo přípravou při proměnné teplotě substrátu. U vzorků připravených při teplotě vyšší než 400 řC byla na několika procentech povrchu pozorována vrstva CeO2(100). Vysoce rozlišené studium struktury CeO2/Cu(111) bylo provedeno na vzorcích s nízkým pokrytím připravených při konstantní teplotě. V prvních třech monovrstvách CeO2 byla na topografických měřeních patrná moir struktura, která vznikla kvůli nesouladu mřížkových konstant CeO2 a Cu(111). Atomárního rozlišení se...cs_CZ
uk.abstract.enThe contents of this study is the investigation of model catalyst CeO2/Cu(111) by STM. The aim of the work is identifying the growth mode of CeO2/Cu(111), studying the surface morphology dependence on substrate temperature during the sample preparation and determination of the atomic structure of the prepared layers. In terms of evolution of substrate temperature during the deposition samples has been prepared by three different methods - a constant temperature, variable temperature, and annealing the sample after deposition. The growth mode of the layers CeO2 has been determined as 3D growth. Samples with different morphology have been prepared by varying temperature of substrate during the preparation. With decreasing sample preparation temperature the roughness and defect density on surface have been increasing. The best epitaxy has been achieved by temperature gradient preparation. Samples which have been prepared with temperature above 400řC have been partially covered by layer CeO2(100). Measurements with hight resolution have been performed on the samples with low coverage. The first three monolayers of CeO2 have shown a moir pattern which has been caused by mismatch in lattice parameters. Atomic resolution has been achieved only in the first and the second monolayer CeO2. The absence of defects in...en_US
uk.publication.placePrahacs_CZ
uk.grantorUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta, Katedra fyziky povrchů a plazmatucs_CZ


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record


© 2017 Univerzita Karlova, Ústřední knihovna, Ovocný trh 3-5, 116 36 Praha; email: admin-repozitar [at] cuni.cz

Za dodržení všech ustanovení autorského zákona jsou zodpovědné jednotlivé složky Univerzity Karlovy. / Each constituent part of Charles University is responsible for adherence to all provisions of the copyright law.

Upozornění / Notice: Získané informace nemohou být použity k výdělečným účelům nebo vydávány za studijní, vědeckou nebo jinou tvůrčí činnost jiné osoby než autora. / Any retrieved information shall not be used for any commercial purposes or claimed as results of studying, scientific or any other creative activities of any person other than the author.

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Theme by 
@mire NV