Show simple item record

Study of the structure and properties of black aluminium thin films prepared by magnetron sputtering
Studium struktury a vlastností tenkých vrstev černého hliníku připraveného pomocí magnetronového naprašování
dc.contributor.advisorHruška, Petr
dc.creatorProkop, Dejan
dc.date.accessioned2021-08-03T09:25:34Z
dc.date.available2021-08-03T09:25:34Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.11956/128265
dc.description.abstractTenké vrstvy čiernych kovov sú charakteristické veľmi drsným fraktálovitým povrchom. V porovnaní s bežnými reflektívnymi kovmi disponujú čierne vrstvy podstatne vyšším pomerom povrchu k celkovému objemu vzorky, vďaka čomu môžu byť využité napr. ako základ optických a chemických senzorov. V tejto bakalárskej práci sú skúmané a porovnávané vlastnosti tenkých vrstiev čierneho a reflektívneho hliníka s hrúbkou od 50 do 700 nm pripravených pomocou pulzného DC magnetrónového naprašovania. Malé množstvo dusíka, ktoré je privedené počas depozície do komory, má za následok zmenu v štruktúre a raste čiernych vrstiev. Výrazne odlišná morfológia ich povrchu je skúmaná po- mocou kontaktného profilometru, mikroskopie atomárnych síl a skenovacieho elektrónového mikroskopu. Merania získané týmito prístrojmi poskytujú cenné informácie týkajúce sa štruktúry povrchu ako aj spôsobe ich rastu. Bola pozorovaná rastúca závislosť drsnosti a strednej veľkosti kryštalitov s hrúbkou vrstiev. Analýza vykonaná difrakciou röntgenového žiarenia ukazuje, že obe vzorky majú rovnakú kryštalickú štruktúru zodpovedajúcu plošne centrovanej kubickej mriežke. Spektrofotometrické meranie spekulárnej reflektancie umož- ňuje...cs_CZ
dc.description.abstractBlack metallic thin films are characterized by their excessively rough fractal-like surface structure. Furthermore, black metal films have a much bigger surface- to-volume ratio compared to classic reflective metals. Therefore, they can be used e.g. as a basis for optical or chemical sensors. In the present bachelor thesis, we study and pro- vide a comparison between the properties of reflective and black thin films with thickness in the range of 50-700 nm prepared by pulsed DC magnetron sputtering. A small amount of nitrogen that is introduced during deposition to a chamber is responsible for a change in the structure and the growth of the black films. Different surface morphology is studied using a contact profilometer, atomic force microscope and scanning electron microscope. The measurements obtained by these instruments provide valuable information regarding the overall surface structure and means of growth. The surface roughness, as well as the mean crystallite size was observed to increase with the thickness of the films. The X-ray diffraction analysis shows that both types of film crystallize in the face-centered cubic crystal structure. Spectrophotometrical measurements of specular reflectance pro- vide quantitative information about the optical properties. The ultraviolet, visible and near-infrared...en_US
dc.languageSlovenčinacs_CZ
dc.language.isosk_SK
dc.publisherUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.subjecttenké vrstvy|černý hliník|magnetronové naprašování|morfologie|spektrofotometriecs_CZ
dc.subjectthin films|black aluminium|magnetron sputtering|morphology|spectrophotometryen_US
dc.titleŠtúdium štruktúry a vlastností tenkých vrstiev čierneho hliníka pripraveného pomocou magnetrónového naprašovaniask_SK
dc.typebakalářská prácecs_CZ
dcterms.created2021
dcterms.dateAccepted2021-07-08
dc.description.departmentDepartment of Low Temperature Physicsen_US
dc.description.departmentKatedra fyziky nízkých teplotcs_CZ
dc.description.facultyFaculty of Mathematics and Physicsen_US
dc.description.facultyMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
dc.identifier.repId229445
dc.title.translatedStudy of the structure and properties of black aluminium thin films prepared by magnetron sputteringen_US
dc.title.translatedStudium struktury a vlastností tenkých vrstev černého hliníku připraveného pomocí magnetronového naprašovánícs_CZ
dc.contributor.refereeČížek, Jakub
thesis.degree.nameBc.
thesis.degree.levelbakalářskécs_CZ
thesis.degree.disciplineObecná fyzikacs_CZ
thesis.degree.disciplineGeneral Physicsen_US
thesis.degree.programPhysicsen_US
thesis.degree.programFyzikacs_CZ
uk.thesis.typebakalářská prácecs_CZ
uk.taxonomy.organization-csMatematicko-fyzikální fakulta::Katedra fyziky nízkých teplotcs_CZ
uk.taxonomy.organization-enFaculty of Mathematics and Physics::Department of Low Temperature Physicsen_US
uk.faculty-name.csMatematicko-fyzikální fakultacs_CZ
uk.faculty-name.enFaculty of Mathematics and Physicsen_US
uk.faculty-abbr.csMFFcs_CZ
uk.degree-discipline.csObecná fyzikacs_CZ
uk.degree-discipline.enGeneral Physicsen_US
uk.degree-program.csFyzikacs_CZ
uk.degree-program.enPhysicsen_US
thesis.grade.csVýborněcs_CZ
thesis.grade.enExcellenten_US
uk.abstract.csTenké vrstvy čiernych kovov sú charakteristické veľmi drsným fraktálovitým povrchom. V porovnaní s bežnými reflektívnymi kovmi disponujú čierne vrstvy podstatne vyšším pomerom povrchu k celkovému objemu vzorky, vďaka čomu môžu byť využité napr. ako základ optických a chemických senzorov. V tejto bakalárskej práci sú skúmané a porovnávané vlastnosti tenkých vrstiev čierneho a reflektívneho hliníka s hrúbkou od 50 do 700 nm pripravených pomocou pulzného DC magnetrónového naprašovania. Malé množstvo dusíka, ktoré je privedené počas depozície do komory, má za následok zmenu v štruktúre a raste čiernych vrstiev. Výrazne odlišná morfológia ich povrchu je skúmaná po- mocou kontaktného profilometru, mikroskopie atomárnych síl a skenovacieho elektrónového mikroskopu. Merania získané týmito prístrojmi poskytujú cenné informácie týkajúce sa štruktúry povrchu ako aj spôsobe ich rastu. Bola pozorovaná rastúca závislosť drsnosti a strednej veľkosti kryštalitov s hrúbkou vrstiev. Analýza vykonaná difrakciou röntgenového žiarenia ukazuje, že obe vzorky majú rovnakú kryštalickú štruktúru zodpovedajúcu plošne centrovanej kubickej mriežke. Spektrofotometrické meranie spekulárnej reflektancie umož- ňuje...cs_CZ
uk.abstract.enBlack metallic thin films are characterized by their excessively rough fractal-like surface structure. Furthermore, black metal films have a much bigger surface- to-volume ratio compared to classic reflective metals. Therefore, they can be used e.g. as a basis for optical or chemical sensors. In the present bachelor thesis, we study and pro- vide a comparison between the properties of reflective and black thin films with thickness in the range of 50-700 nm prepared by pulsed DC magnetron sputtering. A small amount of nitrogen that is introduced during deposition to a chamber is responsible for a change in the structure and the growth of the black films. Different surface morphology is studied using a contact profilometer, atomic force microscope and scanning electron microscope. The measurements obtained by these instruments provide valuable information regarding the overall surface structure and means of growth. The surface roughness, as well as the mean crystallite size was observed to increase with the thickness of the films. The X-ray diffraction analysis shows that both types of film crystallize in the face-centered cubic crystal structure. Spectrophotometrical measurements of specular reflectance pro- vide quantitative information about the optical properties. The ultraviolet, visible and near-infrared...en_US
uk.file-availabilityV
uk.grantorUniverzita Karlova, Matematicko-fyzikální fakulta, Katedra fyziky nízkých teplotcs_CZ
thesis.grade.code1
dc.contributor.consultantNovotný, Michal
uk.publication-placePrahacs_CZ
uk.thesis.defenceStatusO


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record


© 2017 Univerzita Karlova, Ústřední knihovna, Ovocný trh 560/5, 116 36 Praha 1; email: admin-repozitar [at] cuni.cz

Za dodržení všech ustanovení autorského zákona jsou zodpovědné jednotlivé složky Univerzity Karlovy. / Each constituent part of Charles University is responsible for adherence to all provisions of the copyright law.

Upozornění / Notice: Získané informace nemohou být použity k výdělečným účelům nebo vydávány za studijní, vědeckou nebo jinou tvůrčí činnost jiné osoby než autora. / Any retrieved information shall not be used for any commercial purposes or claimed as results of studying, scientific or any other creative activities of any person other than the author.

DSpace software copyright © 2002-2015  DuraSpace
Theme by 
@mire NV